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光耦參數測試儀簡介

發(fā)布日期：2021-04-13      瀏覽次數：583

光耦參數測試儀 型號：JFY3092B

JFY3092B光耦參數測試儀技術指標
5.1.1 耐壓(BVCEO BVECO)

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-1000V	0.1V	<1%+2RD	0-2mA

 

 
5.1.2輸入正向壓降(VF)

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-10V	1mV	<1%+2RD	0-400MA

 

 
5.1.3輸出端反向漏電流(ICEO)

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-2000uA	1nA	<5% +5RD	0-1000V（+/-1%）

 

5.1.4反向漏電流(IR)

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-2000uA	10nA	<5% +5RD	VR=0-10V（+/-1%）

 

 
5.1.5電流傳輸比(CTR)

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-9999	1%	1% +5RD	BVCE：0-10V IF:0-400MA （+/-1%）

 

5.1.6輸出導通壓降(VCE(sat))

 

測試范圍	分辨率	精度	測試條件
0-10.000V	1mV	1% +5RD	IC：0-400mA IF:0-400mA （+/-1%）

 

 
5.1.7：可同時測通道數：1通道，2通道 4通道
5.1.8:可分檔位總數：16
5.1.9可連接機械手測試。